拒絕隱形危機!排除電子級、高真空與強腐蝕製程的壓力量測危機

壓力計-差壓計研討會 報名線上研討會

演講者: Kevin Chao

時間: 2026/04/01 下午 2:00

時長: 30 分鐘

方式: 線上研討會 / 中文進行

拒絕隱形危機!
排除電子級、高真空與強腐蝕製程的壓力量測危機

The Future of Pressure Measurement

  在精密製造與嚴苛化工環境中,「穩定」與「安全」是維繫良率與產能的基礎。然而,製程現場往往潛伏著難以察覺的隱形危機:在電子級製程中,微量的填充油洩漏可能瞬間導致昂貴晶圓報廢;高真空環境下,傳統膜片形變與油封失效可能造成數據漂移,進而誤導安全連鎖判斷;而漿料磨損或腐蝕現象更是悄悄吞噬儀錶壽命的定時炸彈。
  這次我們以解決極端製程或環境的測量難題為出發點,規劃了 30 分鐘的線上研討會,帶您深入了解 Endress+Hauser 如何透過專利陶瓷技術,以「無填充油」與「高硬度」的物理特性,一次排除純淨度、真空穩定性與耐用度的量測障礙。並結合 Heartbeat技術,將壓力感測點轉化為製程安全的最後一道防線,帶領您體驗從「被動維修」轉向「主動預防」的智慧運維革命。

議程內容

  • 1. 壓力感測技術的演進與安全標準
  • 2. 智慧化如何提升生產力與安全性
  • 3. 技術拆解:TempC 膜片與膜片破裂偵測 
  • 4. 實戰應用:解決真空、腐蝕與磨耗製程痛點
  • 5. 預測性維護,實現主動式防禦

講者介紹

講者照片

Kevin Chao

主任

擎傑企業 | 業務部


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