Guided level radar measurement

導波式雷達波位面測量

適用於液體及粉粒體位面的測量

導波式雷達波料位計可應用於液體以及粉粒體的料位測量，由於導波式雷達比一般的非接觸式雷達多了一個導波桿，所以雷達波測量訊號都會集中在導波桿上，並且沿者導波桿行進傳遞而不會散射，因此不管是粉粒體測量時，料位的不規則表面、安息角，或是液體測量時，液位表面的波動、泡沫層等，都不會影響位面的測量。

EOP (End Of Probe)

雷達波位面計在測量粉粒體料位的時候，往往因為粉粒體的介電係數太低，而發生收不到測量反射訊號的問題。為了解決這個問題，E+H 研發獨步全球的 EOP (End of Probe) 專利軟體技術，使導波式雷達波位面計在測量粉粒體料位時，即使粉粒體介電係數低也不會有任何測量上的困擾，達到料位監控不間斷的功能。

高溫高壓氣層密度誤差補正

在高溫高壓的液體桶槽內，常充斥著大量的蒸汽或者是蒸發氣體，這些氣體在高壓高溫 (超過 200 ºC) 的條件下，氣層的介電係數會跟著改變，進而影響雷達波的行進速率，使測量精確度產生偏差，例如，在 400 bar/400 ºC 的製程條件下，鹽酸氣會造成高達 29% 的測量誤差，甚至連一般的空氣都會有 4% 的誤差。基於高溫高壓製程的安全性考量，E+H 研發了專利的氣層補正 (Gas Phase Compensation) 之硬體及軟體技術，來克服測量誤差，確保高溫高壓製程料位測量的準確性。

Levelflex 的特點

利用導波探棒傳遞雷達波，更確實的偵測位面測量反射訊號
針對具有腐蝕性的製程，導波探棒可選擇具有耐腐蝕性的材質被覆
沒有任何可動元件，不需要經常性的保養
EOP (End of Probe) 專利軟體技術確保不會有測量訊號迷失的問題發生
高強度防漏氣密設計，確保桶槽內部氣體/水氣不會從感測器端洩漏
高溫高壓型儀錶最高耐溫耐壓可到 400 ºC/400 bar
可以測量雙層液體的分離介面，比一般常見的介面測量原理更容易安裝設定
具有 SIL2 認證
通過歐洲鍋爐專用測量認證